แหวนสลิปหลายวงจรสำหรับเครื่องมือทดสอบ

เครื่องมือทดสอบมีระบบวงจรที่ซับซ้อน วงจรเหล่านี้จะสร้างสัญญาณแม่เหล็กไฟฟ้าที่มีความถี่และแอมพลิจูดต่างกันเมื่อทำงาน เมื่อสัญญาณมีปฏิสัมพันธ์หรือเชื่อมต่อกัน จะเกิดการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า ช่องสัญญาณภายในวงแหวนสลิปหลายสายมีความเป็นอิสระจากกันและแยกออกจากกันด้วยวัสดุฉนวน ความต้านทานของฉนวนระหว่างแต่ละช่องสามารถเข้าถึงหลายร้อยเมกะโอห์ม เพื่อป้องกันไม่ให้สัญญาณข้าม

ด้วยโครงสร้างหน้าสัมผัสหลายจุด พื้นที่สัมผัสระหว่างวงแหวนนำไฟฟ้าและแปรงจะเพิ่มขึ้น และความต้านทานต่อหน้าสัมผัสต่อหน่วยพื้นที่ลดลง ในเวลาเดียวกัน หน้าสัมผัสมักทำจากวัสดุโลหะมีค่า ซึ่งสามารถรักษาความแรงและคุณภาพของสัญญาณได้ดีขึ้น เพราะความต้านทานของทองคำอยู่ที่ประมาณ 2.44×10⁻⁸Ω・m ในทางตรงกันข้าม ความต้านทานของทองแดงอยู่ที่ประมาณ 1.7×10⁻⁸Ω・m

อุปกรณ์เหล่านี้ต้องการการรับข้อมูลและการตรวจสอบจุดทดสอบหลายร้อยจุด วงแหวนสลิปแบบหลายสายมีช่องสัญญาณหลายสิบหรือหลายร้อยช่องเพื่อรักษาการทำงานของระบบทดสอบอัตโนมัติขนาดใหญ่เพื่อให้เป็นไปตามนี้

เมื่อเครื่องมือทดสอบทำงาน หากใช้สายเคเบิลธรรมดาในการเชื่อมต่อ อาจเกิดการพันกันของสายเคเบิลได้มาก วงแหวนสลิปแบบหลายสายมักจะติดตามอุปกรณ์ หมุนได้ 360 องศาโดยไม่มีข้อจำกัด และส่งกำลังและสัญญาณ พวกเขารักษาการหมุนและการเคลื่อนไหวของอุปกรณ์อย่างต่อเนื่อง